一般財団法人ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所Japan Fine Ceramics Center ◇ 〒456–8587 名古屋市熱田区六野二丁目4番1号
電子光学でのブレイクスルーとなった球面収差補正技術の確立により電子顕微鏡の空間分解能は飛躍的に向上しており，ゼオライトの構造観察においても大きな進展があった。収差補正技術によりもたらされるゼオライト構造解析における最大のメリットは細孔内物質の直接観察が可能になった点にある。様々なゼオライトの応用において細孔内のカウンターカチオン位置に関する情報は非常に重要であり，それらの解析手法の確立が求められている。空間分解能，電子線照射損傷の課題から直接観察が不可能であったカウンターカチオンの直接観察が，近年における装置性能の向上により可能となっている。本稿では複数の観察モードの特徴を示し，それらによる観察事例を紹介する。
Structural information of countercations embedded in zeolitic nanocavities is very important for various applications. Structural analysis by using diffraction method is not always applicable to identification of nonperiodic cationic sites. Therefore, atomic-scale imaging method must be advantageous for structural analysis of countercations. Spatial resolution of transmission electron microscopes has been improved drastically with an aberration-correction (AC) technique. State-of-the-art electron microscopes enable us to observe countercations directly. Imaging modes in transmission electron microscopes (TEMs) and scanning transmission electron microscopes (STEMs) should be selected adequately according to the type of countercations.
キーワード：ゼオライト；カウンターカチオン；収差補正透過電子顕微鏡；収差補正走査透過電子顕微鏡
Key words: zeolites; countercations; AC-TEM; AC-STEM
© 2021 一般社団法人日本ゼオライト学会© 2021 Japan Zeolite Association
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